8 (812) 320-06-69

Каталог

Категории
Высшее образование (16+) (45099)
Высшее образование
Естественные науки (2781)
Естественные науки
Общественные науки (3966)
Общественные науки
Информатика и компьютерные технологии (4986)
Информатика и компьютерные технологии
Инженерное дело (1487)
Инженерное дело
Телекоммуникации, электроника, электротехника и радиотехника (1412)
Телекоммуникации, электроника, электротехника и радиотехника
Строительство. Архитектура (819)
Строительство. Архитектура
Строительство. Архитектура. Журналы (17)
Строительство. Архитектура. Журналы
Бетон и железобетон (3)
Бетон и железобетон
Жилищное строительство (7)
Жилищное строительство
Строительные материалы (7)
Строительные материалы
Юридические науки.Право (4595)
Юридические науки.Право
Отрасли права (2892)
Отрасли права
Гуманитарные науки (6467)
Гуманитарные науки
Иностранные языки (2430)
Иностранные языки
Экономика. Экономические науки (7959)
Экономика. Экономические науки
Образование. Педагогические науки (4139)
Образование. Педагогические науки
Медицина и здравоохранение (994)
Медицина и здравоохранение
Физическая культура и спорт (518)
Физическая культура и спорт
Среднее профессиональное образование (14+) (3380)
Среднее профессиональное образование
Коллекции (49348)
Коллекции
Издательские коллекции (48929)
Издательские коллекции
Проспект (3133)
Проспект
Журналы (1146)
Журналы
Остаться в выбранном разделе
Назад к каталогу

Электронные измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике. — 2-е изд., эл.

Электронные измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике. — 2-е изд., эл. ISBN 978-5-89818-373-8
ISBN 978-5-89818-373-8
Авторы: 
Афонский А. А., Дьяконов В. П.
Тип издания: 
Монография
Издательство: 
Москва: ДМК Пресс
Год: 
2023
Количество страниц: 
689
Аннотация

Первая в России монография по самым современным электронным электро- и радиоизмерениям и измерительным приборам, применяемым в научных исследованиях, тестировании и испытании устройств и систем микроэлектроники и нанотехнологий. Впервые подробно описаны средства измерений, применяемые в условиях крупносерийного микроэлектронного производства, и приборы ведущих в их разработке и производстве фирм: Keithley, Tektronix, Agilent Technologies, LeCroy, R&S и др. Особое внимание уделено анализу и генерации тестовых сигналов, измерению их параметров в области малых и сверхмалых времен, измерению сверхмалых токов и напряжений, анализу импеданса и иммитанса цепей, измерениям статических и динамических характеристик полупроводниковых приборов и интегральных микросхем и др. Является самым крупным обзором современных зарубежных и отечественных измерительных приборов на рынке России и мира.
Для инженеров, научных работников, аспирантов, преподавателей и студентов вузов и университетов технического и классического типов.

Библиографическое описание Скопировать библиографическое описание

Афонский А. А. Электронные измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике. — 2-е изд., эл. / А.А. Афонский, В.П. Дьяконов. - Москва : ДМК Пресс, 2023. - 689 с. - ISBN 978-5-89818-373-8. - URL: http://m.ibooks.ru/bookshelf/392072/reading (дата обращения: 26.07.2025). - Текст: электронный.