Каталог
Физические основы современных методов исследования материалов : учеб. пособие / Минобрнауки России, Ом. гос. техн. ун-т

Рассмотрены физические процессы, законы и явления, лежащие в основе различных методов исследования материалов, таких как сканирующая зондовая микроскопия, растровая электронная микроскопия, ИК-спектроскопия, рентгеновская ди-фрактометрия и др. Представлен материал для самостоятельной работы в виде практических заданий.
Учебное пособие предназначено для студентов бакалавриата, магистратуры и аспирантов, обучающихся по специальностям, связанным с проектированием оборудования и разработкой специальных технологий создания новых материалов.
Рогачев Е. А. Физические основы современных методов исследования материалов : учеб. пособие / Минобрнауки России, Ом. гос. техн. ун-т / Е.А. Рогачев. - Омск : ОмГТУ, 2021. - 88 с. - ISBN 978-5-8149-3367-6. - URL: http://m.ibooks.ru/bookshelf/390307/reading (дата обращения: 28.07.2025). - Текст: электронный.