Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение / пер. с англ.— 4-е изд., электрон.

В книге под редакцией известных ученых собраны статьи и обзоры видных специалистов в области нанотехнологий, посвященные растровой электронной микроскопии (РЭМ). С помощью РЭМ можно изучать свойства наночастиц, нанопроволок, нанотрубок, трехмерных наноструктур, квантовых точек, магнитных наноматериалов, фотонных кристаллов и биологических наноструктур. Рассмотрены различные типы РЭМ, включая просвечивающие микроскопы с высоким разрешением, рентгеновский микроанализ, новейшие методы получения изображения посредством обратно рассеянных электронов, а также методы электронной криомикроскопии для исследования биообъектов.
Книга предназначена для широкого круга практических специалистов в сфере нанотехнологий, но будет полезна также студентам вузов и разработчикам новых типов растровых электронных микроскопов.

Жу У. Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение / пер. с англ.— 4-е изд., электрон. / Ж.Л. Уанг. - Москва : Лаборатория знаний, 2021. - 601 с. - ISBN 978-5-00101-142-2. - URL: http://m.ibooks.ru/bookshelf/385384/reading (дата обращения: 24.07.2025). - Текст: электронный.